Обособленное подразделение "Отдел микротехнологий" - Ярославль

Семинар 10 сентября 2026 года

В четверг, 10 сентября 2026 года в 15.00 в 338 кабинете состоится очно-заочный семинар «Физика и технология микро- и наноэлектроники» (руководитель семинара д.ф.-м.н. О.С. Трушин)

Порядок подачи статей и тезисов для получения экспертного заключения

Программа семинара

1. Статья «Закономерности формирования осей магнитной анизотропии в деформированных поликристаллических тонких пленках» А.В. Проказников, В.А. Папорков, М.А. Лях, Р.В. Селюков, В.В. Наумов для опубликования в открытой печати в виде статьи в журнале «Микроэлектроника», издательство «Наука» 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Проказников Александр Владимирович, ОФТИ, Ярославль.
2. Статья «Formation of porous structures on semiconductors surfaces under ion irradiation» (Формирование пористых структур на поверхностях полупроводников под воздействием ионного облучения) V.I. Bachurin, M.A. Smirnova, D.E. Pukhov, M.E. Lebedev, L.A. Mazaletsky, A.B. Churilov, A.S. Rudy для опубликования в открытой печати в виде статьи в журнале «Russian Microelectronics» издательства «Pleiades Publishing, Ltd.» 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Смирнова Мария Александровна, ОФТИ, Ярославль.
3. Тезисы доклада «Распыление полупроводников А₃В₅ ионами галлия при различных флюенсах и углах падения ионного пучка» В.И. Бачурина, А.А. Волкова, М.А. Смирновой, Д.Э. Пухова, Л.А. Мазалецкого, А.Б. Чурилова, К.Н. Лобзова для опубликования в трудах научного мероприятия по результатам X Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов «Физические и физико-химические основы ионной имплантации», проходящей в ННГУ им. Н.И. Лобачевского, г. Нижний Новгород, Россия, 27-30 октября 2026 г. 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Смирнова Мария Александровна, ОФТИ, Ярославль.
4. Статья «Азимутально-разрешенная эллипсометрия матрицы Мюллера для исследования круговой деаттенюации в медных наноспиралях» (Azimuthally resolved Mueller-matrix ellipsometry of circular diattenuation in copper nanospirals)» Р.А. Гайдукасов, И.С. Фаттахов, А.В. Мяконьких, О.С. Трушин для опубликования в открытой печати в виде статьи в журнале "Optics Express" издательства "Оptica publishing group" (США). 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Гайдукасов Рафаэль Алексеевич, ОФТИ, Москва.
5. Статья «Применение дифрактометра общего назначения для рефлектометрического анализа толщин тонкопленочных покрытий диапазона 5 – 65 нм» С.В. Васильев, А.В. Проказников, Д.Э. Пухов, О.В. Савенко опубликования в открытой печати в виде статьи в журнале «Микроэлектроника», издательство «Наука». Тема 3Ф-ФТИАН.4. Докладчик Савенко Олег Владиславович, ОФТИ, Ярославль.
6. Статья «The influence of the conditions in the electrochemical formation process of ferromagnetic nanowires in the pores of anodic aluminum oxide on their phase composition.». (Влияние условий процесса электрохимического формирования ферромагнитных нанопроволок в порах анодного оксида алюминия на их фазовый состав.) Н.Г.Савинский, Е.А. Грушевский, О.С. Трушин, В.В. Наумов, Р.В Селюкова. Для опубликования в виде статьи в журнале «Russian Microelectronics» издательства «Pleiades Publishing, Ltd.» 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Савинский Николай Геннадьевич, ОФТИ, Ярославль.