Публикации сотрудников ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева за 2020 год

  1. Рудый А.С., Мироненко А.А., Наумов В.В., Скундин А.М., Кулова Т.Л., Федоров И.С., Васильев С.В. Твердотельный литий-ионный аккумулятор: структура, технология и характеристики. Письма в журнал технической физики, 2020, выпуск 5, стр. 15. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  2. Селюков Р.В., Наумов В.В. Влияние толщины пленки Pt на изменение текстуры и доли кристаллической фазы при ее отжиге. Журнал технической физики, 2020, выпуск 5, стр. 795. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  3. Савинский Н.Г., Мелесов Н.С., Паршин Е.О., Васильев С.В., Бачурин В.И., Чурилов А.Б. Анализ продуктов электрохимической эксфолиации графита методами резерфордовского обратного рассеяния и ренгеновской дифрактометрии. Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2020. Т. 84. №. 6. С. 887-891. РИНЦ, Scopus Квартиль журнала
  4. Уваров И.В., Марухин Н.В., Шлепаков П.С., Лукичев В.Ф. Расчет рабочих характеристик МЭМС-переключателя с увеличенным отношением емкостей. Микроэлектроника, 2020, Том 49, № 4, с. 271-280. DOI: 10.31857/S0544126920040110 РИНЦ, Scopus Квартиль журнала
  5. Мордвинцев В.М., Горлачев Е.С., Кудрявцев С.Е., Левин В.Л. Влияние давления кислорода на переключения в мемристорах на основе электроформованных открытых “сэндвич”-структур. Микроэлектроника, 2020, Том 49, № 4, с. 287-296. РИНЦ, Scopus, Квартиль журнала
  6. Ломов А.А., Середин Б.М., Мартюшов С.Ю., Заиченко А.Н., Симакин С.Г., Шульпина И.Л. Структурное совершенство и состав легированных галлием термомиграционных слоев кремния. Письма в журнал технической физики, 2020, выпуск 6, стр. 27. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  7. Постников А.В. Динамика коллапса полусферического кавитационного пузырька в контакте с твердой границей. Известия Академии наук СССР. Механика жидкости и газа. 2020. Номер 4. Стр. 24-34. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  8. Селюков Р.В., Изюмов М.О., Наумов В.В. Влияние низкоэнергетической ионно-плазменной обработки на морфологию поверхности пленок Pt с различной остротой кристаллической текстуры. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 8. С. 26-33. DOI:10.31857/S1028096020080142 РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  9. Бучин Э.Ю., Мироненко А.А., Наумов В.В., Рудый А.С. Влияние диффузионных барьеров на емкостные свойства композитных анодов состава Si-CuSi-Cu. Письма в журнал технической физики, 2020, выпуск 19, стр. 3. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  10. Шумилов А.С., Амиров И.И. Эволюция профиля Si наноструктур при распылении в аргоновой плазме ВЧИ разряда. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 9. С. 80-88. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  11. Рудый А.С., Лебедев М.Е., Мироненко А.А., Мазалецкий Л.А., Наумов В.В., Новожилова А.В., Федоров И.С., Чурилов А.Б. Исследование динамики релаксационной поляризации твердого электролита LiPON. Микроэлектроника, 2020, Том 49, № 5, с. 366-379. РИНЦ, Scopus, Квартиль журнала
  12. Проказников А.В., Папорков В.А. Исследование магнитооптических свойств структур на искривленных поверхностях для разработки элементов памяти на магнитных вихрях. Микроэлектроника, 2020, Том 49, № 5, с. 380-394. РИНЦ, Scopus, Квартиль журнала
  13. Пухов Д.Э., Лаптева А.А. Учет неровности поверхности при электронно-зондовом энергодисперсионном анализе материалов в виде порошков. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 9. С. 28-38. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  14. Денисенко Ю.И. Дефектно-примесное наноструктурирование кремния с помощью отжига в неизотермическом реакторе. Научный электронный журнал “Меридиан”, 2020. Выпуск №6 (40), стр. 285-287.
  15. Бучин Э.Ю., Денисенко Ю.И. Активирующая роль бора при ионном синтезе КНИ-структур со скрытым силикатным слоем. Научный электронный журнал “Меридиан” 2020. Выпуск №7 (41), стр. 291-293.
  16. Кривякин Г.К., Володин В.А., Камаев Г.Н., Попов А.А. О влиянии гетерограниц и толщины на кинетику кристаллизации пленок аморфного германия. Физика и техника полупроводников. 2020, выпуск 7, стр. 643. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  17. Колчин А.В., Шулейко Д.В., Павликов А.В., Заботнов С.В., Головань Л.А., Преснов Д.Е., Володин В.А., Кривякин Г.К., Попов А.А., Кашкаров П.К. Фемтосекундный лазерный отжиг многослойных тонкопленочных структур на основе аморфных германия и кремния. Письма в журнал технической физики. 2020, выпуск 11, стр. 43. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  18. Зимин С.П., Амиров И.И., Наумов В.В., Гусева К.Е. Модификация поверхности пленок Pb1–xSnxSe при плазменной обработке вблизи порога распыления. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 11. С. 68-73. РИНЦ, Scopus, WoS, Квартиль журнала
  19. Hao Zhang, Kochubei S.A., Popov A.A., Volodin V.A. On Raman scattering cross section ratio of amorphous to nanocrystalline germanium. Solid State Communications, v. 313 (2020), 113897. Scopus, WoS, Квартиль журнала
  20. Svetovoy V.B., Prokaznikov A.V., Postnikov A.V., Uvarov I.V., Palasantzas G. Explosion of Microbubbles Generated by the Alternating Polarity Water Electrolysis. Energies, 2020, 13(1), 20. Scopus, WoS, Квартиль журнала
  21. Uvarov I.V., Selyukov R.V., Naumov V.V. Testing of aluminium and its alloys as structural materials for a MEMS switch. Microsystem Technologies, 2020, DOI 10.1007/s00542-020-04748-2. Scopus, WoS, Квартиль журнала
  22. Prigara, V. , Kupriyanov, A. and Ovcharov, V. (2020) The Effect of Quartz Window on Bistability of the Silicon Wafer in Lamp-Based Reactor. Journal of Materials Science and Chemical Engineering, 8, 54-65. doi: 10.4236/msce.2020.81006.
  23. Svetovoy V.B., Postnikov A.V., Uvarov I.V., Stepanov F.I., Palasantzas G. Measuring the dispersion forces near the van der Waals–Casimir transition. Physical Review Applied, 2020, Vol. 13, 064057. DOI: 10.1103/PhysRevApplied.13.064057. Scopus, WoS Квартиль журнала
  24. Rasool S., Saritha K., Reddy K.T.R., Tivanov M.S., Gremenok V.F., Zimin S.P., Pipkova A.S., Mazaletskiy L.A., Amirov I.I. Annealing and plasma treatment effect on structural, morphological and topographical properties of evaporated β-In2S3 films. Materials Research Express. 2020. Т. 7. № 1. С. 016431. Scopus, WoS Квартиль журнала
  25. Makoviichuk M.I. Flicker-noise processes in structurally-disordered silicon systems. // Annali d`Italia. - 2020. - № 10, part 1. - P. 26 – 39.
  26. Uvarov I.V., Melenev A.E., Selyukov R.V., Svetovoy V.B. Improving the performance of the fast electrochemical actuator. Sensors and Actuators A: Physical, 2020, Vol. 315, 112346. DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2020.112346 Scopus, WoS, Квартиль журнала

Тезисы и доклады конференций сотрудников ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева за 2020 год

Лаборатории

Новости и события
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
23.10.2020
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
03.08.2020
Конкурс на замещение вакантной научной должности
14.07.2020
Конкурс на замещение вакантной научной должности
26.02.2020
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
18.12.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
01.08.2019
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
03.07.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
19.03.2019
ICMPSN 2019
11.03.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
27.02.2019
Контактная информация
Корпус А
150007, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
+7 (4852) 24-65-52 (приемная)
+7 (4852) 24-09-55 (бухгалтерия)
Корпус Б
150055, г. Ярославль, ул. Красноборская, д. 3
+7 (4852) 24-53-53