Центр коллективного пользования "Диагностика микро- и наноструктур"

Директор ЦКП, директор Ярославского филиала ФТИАН профессор А.С.Рудый

Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» объединяет оборудование Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова (ЯрГУ) и Ярославского Филиала Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института Российской академии наук (ЯФ ФТИАН РАН).

Официальный сайт ЦКП «ДМНС» http://nano.yar.ru/ (страница на сайте ФТИАН: http://ftian.ru/cffs/).

Научное оборудование

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Zeiss Supra-40 с рентгеновским энергодисперсионным анализатором INCA Energy Oxford Instruments.

Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL XTRA Termo Techno

Времяпролетный масс-спектрометр ION TOFF

Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 TF20-TF30 UT FEI Company

Двулучевая система Quanta 3D 200i от FEI™.

  • Сканирующий электронный микроскоп (SEM).
  • Ионный сканирующий микроскоп с сильноточным сфокусированным пучком ионов галлия (FIB).
  • Газо-инжекционная система GIS Platinum deposition (FEI™) для прецизионного нанесения слоя платины.
  • Микроманипулятор Omniprobe model 100.7 (Omniprobe Inc.).
  • Энергодисперсионный кремниевый дрейфовый детектор Apollo X (Ametek Inc.) для микрорентгеноспектрального анализа.

Комплексные исследования

Лаборатории

Новости и события
Конкурс 01.03.2024
01.03.2024
Конкурс 27.11.2023
27.11.2023
Конкурс 01.11.2023
01.11.2023
Конкурс 11.10.2023
11.10.2023
Конкурс 02.10.2023
02.10.2023
Конкурс 17.05.2023
17.05.2023
Конкурс 03.03.2023
03.03.2023
Конкурс 21.12.2022
21.12.2022
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
01.12.2022
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
10.11.2022
Контактная информация
Корпус А
150007, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
+7 (4852) 24-65-52 (приемная)
+7 (4852) 24-09-55 (бухгалтерия)
Корпус Б
150055, г. Ярославль, ул. Красноборская, д. 3
+7 (4852) 24-53-53