Центр коллективного пользования "Диагностика микро- и наноструктур"
Директор ЦКП, директор Ярославского филиала ФТИАН профессор А.С.Рудый
Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» объединяет оборудование Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова (ЯрГУ) и Ярославского Филиала Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института Российской академии наук (ЯФ ФТИАН РАН).
Официальный сайт ЦКП «ДМНС» http://nano.yar.ru/ (страница на сайте ФТИАН: http://ftian.ru/cffs/).
Научное оборудование
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Zeiss Supra-40 с рентгеновским энергодисперсионным анализатором INCA Energy Oxford Instruments.
Времяпролетный масс-спектрометр ION TOFF
- Характеристики прибора
- Исследования
Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 TF20-TF30 UT FEI Company
- Характеристики прибора
- Исследования
Двулучевая система Quanta 3D 200i от FEI™.
- Сканирующий электронный микроскоп (SEM).
- Ионный сканирующий микроскоп с сильноточным сфокусированным пучком ионов галлия (FIB).
- Газо-инжекционная система GIS Platinum deposition (FEI™) для прецизионного нанесения слоя платины.
- Микроманипулятор Omniprobe model 100.7 (Omniprobe Inc.).
- Энергодисперсионный кремниевый дрейфовый детектор Apollo X (Ametek Inc.) для микрорентгеноспектрального анализа.
- Характеристики прибора
- Исследования
Комплексные исследования